AHA-BUCH

CAD für VLSI

Rechnergestützter Entwurf höchstintegrierter Schaltungen Vorträge des Siemens-Symposiums am 8. und 9. November 1982 in München
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ISBN-13:
9783540120452
Einband:
Book
Erscheinungsdatum:
01.11.1982
Seiten:
168
Autor:
H. G. Schwärtzel
Gewicht:
300 g
Format:
244x170x9 mm
Sprache:
Deutsch
Beschreibung:

Entwicklungsschwerpunkte für ein Entwurfssystem.- Ein CAD-System für Zellenschaltungen und Gate Arrays.- Die logische Simulation - Ein Werkzeug für den System- und Schaltwerksentwurf.- Elektrische Simulation - Anforderungen und praktischer Einsatz.- Entwurfsfreundliche Architekturkonzepte für Prozessorbausteine.- Bausteinentwurf auf der Basis von Zellen.- Integriertes Prüfkonzept.- System für rechnerunterstützte Prüfdatenerstellung.- Selbsttestende Schaltungen.- Chip-Überprüfung mit der Elektronensonde.- Layoutentwurf und -verifizierung.- Probleme und Lösungen bei der Plazierung und Verdrahtung von Zellen.- Layout-Generierung von Transistorstrukturen.
Die Mikroelektronik pragt den technischen Fortschritt unserer Zeit. Die von ihr ausgehenden Impulse auf Informations- und Kommunika tionstechnik fUhren zur ErschlieBung neuer Anwendungen und Markte. FUr die elektrotechnische Industrie stellt diese Entwicklung eine Herausforderung in zweifacher Hinsicht dar: FUr die neuen Anwendungsbereiche mUssen produkte und Systemlo sungen geschaffen werden. Mit wachsender Leistungsfahigkeit elektronischer Bausteine muB immer mehr anwendungsspezifisches Wissen in Entwicklung und Fer tigung einbezogen werden. Der letztgenannten Problematik widmet sich diese Fachtagung. Die Erfahrung lehrt, daB groBe Anstrengungen notwendig sind, urn die Methoden, verfahren und Werkzeuge zu erarbeiten, mit denen komplexe elektronische Bauelemente wirtschaftlich entwickelt werden konnen. Auf dem Gebiet der Fertigung derartiger Bauelemente hat die elektro technische Industrie Deutschlands eine gute position im interna tionalen Wettbewerb erreicht. In Entwurf und Entwicklung dagegen droht sich ein schnell wachsender Abstand zu den USA und Japan auf zutun. Dieser Gefahr kann nur mit gemeinsamen, aufeinander abgestimmten Anstrengungen von Wissenschaft und Industr ie begegnet werden. Des halb hat Siemens zu dieser Fachtagung, deren Rahmen das gesamte Gebiet der rechnergestUtzten Entwicklung von hochstintegrierten elektronischen Bausteinen umspannt, die hier tatige deutsche Wis senschaft eingeladen. Die Tagungsthemen reichen vom Design Uber Layout, Architektur, Simulation, Test bis zur Fertigungsvorberei tung. Viele der heute angewandten Methoden und Programme sind - sprUnglich von Hochschulinstituten entwickelt worden, dann von der Industrie Ubernommen, der Praxis angepaBt und in ein umfassendes System integriert worden.

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