Vejwlet-obrabotka
Innowacii w strukturnoj diagnostike monokristallicheskih poluprowodnikow
Paperback
Lieferzeit: Print on Demand - Lieferbar innerhalb von 3-5 Werktagen I
ISBN-13:
9783659500527
Veröffentl:
2014
Einband:
Paperback
Erscheinungsdatum:
26.02.2014
Seiten:
288
Autor:
Yaroslaw Belehow
Gewicht:
447 g
Format:
220x150x18 mm
Sprache:
Russisch
Beschreibung:
V sovremennom poluprovodnikovom materialovedenii vsye chashche trebuyutsya tekhnologii tsifrovoy obrabotki signalov dlya povysheniya chuvstvitel'nosti i informativnosti metodov diagnostiki strukturnogo sovershenstva monokristallov. Zadacha osobenno aktual'na dlya metodov, predostavlyayushchikh naglyadnoe izobrazhenie vnutrenney struktury kristalla. Predstavlennaya monografiya posvyashchena voprosu primeneniya veyvlet-analiza v tsifrovoy obrabotke izobrazheniy strukturnykh defektov monokristallicheskikh poluprovodnikov. V kachestve eksperimental'noy bazy, rassmatrivayutsya metody rentgenovskoy topografii i polyarizatsionno-opticheskogo analiza. Predstavleno poetapnoe postroenie metodiki i algoritmov veyvlet-obrabotki. Izlozheny osnovnye aspekty veyvlet-obrabotki v zadachakh ustraneniya fonovoy neodnorodnosti polyarizatsionno-opticheskikh izobrazheniy i zernistogo kontrasta rentgenovskikh topograficheskikh snimkov. Rabota osnovyvaetsya na materialakh dissertatsionnogo issledovaniya, posvyashchyennogo dannomu voprosu i provodivshegosya s 2002 po 2006 g. Monografiya mozhet predstavlyat' interes dlya nauchnykh rabotnikov i inzhenernykh spetsialistov v oblasti tekhnologiy materialov mikro- i nanoelektroniki, tsifrovoy obrabotki signalov i izobrazheniy.